晶振輸出波形與測試電路

1時序表

2.測試條件

(1)電源電壓

?超過 150µs，直到電壓級別從 0 %達(dá)到 90 % 。

?電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。

(2)其他

?輸入電容低于 15 pF

?5倍頻率范圍或更多測量頻率。

?鉛探頭應(yīng)盡可能短。

?測量頻率時，探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過振蕩器的放大器時，可同時進(jìn)行測量。

(3)其他

?CL包含探頭電容。

?應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。

?使用微型插槽，以觀察波形。

（請勿使用該探頭的長接地線。）

3.測試電路

TCO-****系列 VG, TG, EG,XG系列 *1 ：在頻率電壓控制功能時，進(jìn)行連接

（1）CMOS 負(fù)載 型號： TCO-710x TCO-708*X1A

（2） 抗低,電容負(fù)載 型號： TG-5021CG/CE TG-5031CJ TG-5035CG/CE/CJ

（3） TTL 負(fù)載 型號： TCO-708*A1A

（4） LV-PECL 負(fù)載 型號： VG-4512CA

（5）LV-PECL 負(fù)載 型號： EG-2121CB/CA XG-2121CA EG-4121CA

（6） LV-PECL 負(fù)載 型號： EG-2102CB/CA XG-2102CA EG-2101CA EG-4101CA EA-2102CB

（7） LVDS 負(fù)載 型號： EG-2121/2102CB XG-2121/2102CA EG-2121/2102CA EG-2101CA EG-4121/4101CA EA-2102CB

（8） HCSL 負(fù)載 型號： EG-2121/2102CA EG-4121/4101CA